Script: /index.php?ID=259
Query: INSERT INTO counter_05 VALUES(0,'2034916','2017-06-29','54.81.154.223','mhe5pu8p9pouvck30vacg1rfq5')
Error number: 1062
Error description: Duplicate entry '943181' for key 'PRIMARY'
Elektrónová mikroskopia na priesvit – Transmision Electron Microscopy – TEM
HomePrint version English version

Elektrónová mikroskopia na priesvit – Transmision Electron Microscopy – TEM


Výhodou metódy je priame pozorovanie objemu materiálu na rozdiel od množstva používaných metód sledujúcich povrch a pripovrchové vrstvy, čo zvýhodňuje priame pozorovanie porúch v materiáli a ich charakterizáciu. Podstata metódy spočíva v interakcii elektrónového lúča s periodicky sa meniacim potenciálom vytvoreným elektrónovými obalmi periodicky usporiadaých atómov v materiáli.
Nevýhodou je, že je to metóda deštrukčná, spojená s potrebou prípravy tenkej fólie zo skúmaného objektu.
Daľšou výhodou je možnosť paralelného zobrazenia štruktúry materiálu pomocou elektrónovej difrakcie (obr. 1) a s ňou spojenej mikroštrukúry pomocou difrakčného alebo fázového kontrastu (obr. 2).


Príklad:
La1-xSrxCoO3 tenká vrstva pripravená metódou MOCVD na monokryštále SrTiO3. TEM


Takto môžeme sledovať

Zem  Vlajka EU    Vlajka SR


Autor: Rosová A., Elektrotechnický ústav SAV