HomePrint version English version

Ing. Ján Šoltýs, PhD.


soltys

Elektrotechnický ústav SAV
Dúbravská cesta 9
841 04 Bratislava

Web:      www.elu.sav.sk

Tel:        02 - 5477 5820/2652
Fax:       02 - 5477 58816
E-mail:   jan.soltys@savba.sk

Ing. Ján Šoltýs, PhD. je členom oddelenia optoelektroniky na ELÚ SAV od roku 2001, kedy nastúpil na doktorandské štúdium. Názov jeho dizertačnej práce bol: „AFM nanolitograifa a jej aplikácia na vybrané polovodičové štruktúry“. Od roku 2006 je zamestnancom ústavu a naďalej sa venuje atómovému silovému mikroskopu (AFM), pomocou ktorého analyzuje topografiu povrchov rôznych materiálov ako napr. polovodičov, kovov, oxidov, supravodičov. Ďalej je odborníkom na AFM nanolitografiu, konkrétne lokálnou anodickou oxidáciou (LAO) polovodičových vzoriek. Túto techniku využíva na definíciu submikrometrových štruktúr.

Vybrané publikácie:


J. Šoltýs, V. Cambel, R. Kúdela, P. Eliáš: Study into the shape of oxide lines formed by LAO – Influence of an oxidized material, Surface science (2007) doi:10.1016/j.susc.2006.12.029.

V. Cambel, J. Martaus, J. Šoltýs, R. Kúdela, D. Gregušová: AFM nanooxidation process – technology perspective for mesoscopic structures, Surface science (2007) doi:10.1016/ j.susc.2006.12.058.

Cambel, V., Šoltýs, J., Moško, M., and Kúdela, R.: Two-dimensional electron transport through a barrier prepared by tip-induced oxidation, Superlattices and Microstructures 36 (2004) 359-367.

J. Šoltýs, V. Cambel, J. Fedor: Study of tip-induced Ti-film oxidation in atomic force microscopy contact and non-contact mode, Acta Physica Polonica A 103 (2003) 553-558.